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日本JIMA分辨率測(cè)試卡用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
日本JIMA分辨率測(cè)試卡
JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)）致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
JIMA RT CT-01日本JIMA分辨率測(cè)試卡（專用于三維CT系統(tǒng)分辨率測(cè)試）
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
圖案布局：T型
線/空間尺寸：5種規(guī)格圖案
3μm, 4μm, 5μm, 6μm, 7μm
JIMA RT CT-02分辨率測(cè)試卡
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 5mm
芯片尺寸（W x D x T）：5 x 5 x 0.06mm
圖案布局：L型
線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案
0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm, 0.9μm, 1.0μm, 1.5μm,
2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 10.0μm, 15.0μm
JIMA RT CT-04分辨率測(cè)試卡
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 5mm
芯片尺寸（W x D x T）：5 x 5 x 0.015mm
圖案布局：T型
線/空間尺寸：32種規(guī)格圖案
0.1μm, 0.15μm, 0.2μm, 0.25μm, 0.3μm, 0.35μm, 0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm,
0.9μm, 1.0μm, 1.5μm, 2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm
JIMA RT CT-05分辨率測(cè)試卡
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 3mm
芯片尺寸（W x D x T）：8 x 8 x 0.2mm
圖案布局： T型(3-10μm)
I型(15-50μm)
線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案
3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm （T型）
15μm, 20μm, 25μm, 30μm, 35μm, 40μm, 45μm, 50μm（I型）
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